パルス幅、立ち上がり時間、繰り返し頻度、期間などのパラメーターを測定するためのバイアスフォトセクター。

レーザーパルスパラメーター測定 - バイアスフォトセクター

パルス幅はパルスレーザーの重要なパラメーターであり、測定結果は単一パルスエネルギーに影響を与える重要な要因です。現在、バイアスされた光電子検出器は、産業生産および科学的研究で一般的に使用され、パルス幅をテストし、光信号を電気信号に変換し、波形と関連パラメーターをオシロスコープを介して読み取ります。
CNIは、超高速パルスレーザーを監視し、パルス幅、立ち上がり時間、繰り返し頻度、期間、およびその他のパラメーターを測定するためのフリースペースバイアスフォトセクターを提供します。高速信号を検出するには、50Ωの負荷抵抗も推奨されます。

中国の大手メーカーおよびサプライヤーとして、CNIは、最高品質のレーザー、レーザーシステム、高出力レーザー、光学測定装置、単一縦モードレーザー、レーザー加工装置、高エネルギーレーザー、機械視、光電子検出装置を提供することに専念しています。

■ テスト機器：バイアスされた光検出器

• 波長範囲：200-1700 nm
• 立ち上がり時間：1ns/ 350ps
• 組み込みの12Vバイアスバッテリーが装備されています
• 超コンパクトなデザインで、狭いスペースでの測定に使用できます
• SM1光アダプターを介したファイバーカップリング

■ 技術パラメーター

モデル	波長範囲	立ち上がり時間	帯域幅	datssheet
D200-SI	200-1100 nm	1ns	350MHz
D800-in	800-1700 nm	350ps	5GHz

■ テスト結果の例

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D200-SIパルス期間と周波数テスト

D200-SIサイクルテスト